HL-T180顯微顆粒粒度粒型圖像儀
視“打造國(guó)�(chǎn)的顆粒圖像儀器”為己任,以科技�(chuàng)品牌、質(zhì)量闖市場(chǎng)、信�(yù)贏天下為方針,打造穩(wěn)定、高性價(jià)比的�(guó)�(chǎn)顆粒圖像儀��
HL-T180顆粒圖像儀是顆粒圖像分析設(shè)備,HL-T180采用工業(yè)�(jí)顯微圖像采集系統(tǒng),使樣品觀�(cè)清晰。分析軟件系�(tǒng)能夠?qū)悠返摹皢误w�(shù)�(jù)�、“形�(tài)參數(shù)”、“整體分布”等參數(shù)�(jìn)行分析和�(jì)�,可以獲得樣品的整體分布�(guī)律的曲線圖和顆粒形態(tài)描述等豐富數(shù)�(jù),是�(duì)各類顆粒樣品�(jìn)行觀�(cè)和分析的儀器設(shè)備。配套的顆粒分析軟件�(jìn)行了人性化的升�(jí)和改�(jìn),由�(jì)算機(jī)自主分析出樣品各種等效粒徑、X、Y切線等“單體屬性�、以及包括長(zhǎng)徑比、球型度在內(nèi)的“形�(tài)參數(shù)�。再通過�(jìn)一步計(jì)算得出此樣品的整體分布情況(包含整體分布曲線等數(shù)�(jù)�,軟件中還增加了多幅圖像拼接�(jì)算的模式,增加了參與分析的顆粒數(shù)�,后可將樣品的數(shù)�(jù)以報(bào)告的形式輸出(包含有圖像范例、圖�、數(shù)�(jù)列表等),便于測(cè)試人員對(duì)�(cè)試結(jié)果�(jìn)行管理和匯報(bào)�
�(chǎn)品優(yōu)�(shì)
HL-T180顆粒圖像儀”作為顆粒圖像分析儀器,是專為顆?;蝾w粒相�(guān)行業(yè)推出�,它的突出優(yōu)�(shì)主要體現(xiàn)在以下方面:
1 專業(yè)性強(qiáng):本�(chǎn)品不但可�(duì)樣品的顆粒單體的�(jìn)行科�(xué)描述,還可以將顆粒的分布情況使用�(shù)�(jù)、圖表等方式�(jìn)行直觀表現(xiàn)。能夠獨(dú)立或輔助顆粒圖像儀等設(shè)備更好的�(jìn)行顆粒測(cè)試工��
2 �(shù)�(jù)直觀、易懂,分析�(jié)果一目了然:在�(jìn)行顆粒檢�(cè)的同�(shí)還可觀�(cè)樣品形貌的直觀。這能夠使用戶更多的了解顆粒的形貌、狀�(tài)、變化過程等信息。并�,對(duì)照直觀的樣品圖�,可以幫助用戶更好的理解�(bào)告中的數(shù)�(jù)含義�
3 �(yīng)用廣�,性價(jià)比高:“HL-T180顆粒圖像儀”既可以作為一種觀�(cè)儀�,替代傳�(tǒng)顯微鏡�(jìn)行各種樣品的觀�(cè)工作,又可以�(jì)算樣品的各項(xiàng)�(shù)�(jù),操作直觀�(jiǎn)�,應(yīng)用范圍廣泛�
顆粒圖像儀主要用于�(cè)試水�、陶�、藥品、乳�、涂料、染�、顏料、填�、化工產(chǎn)�、催化劑、鉆井泥漿、磨�、煤粉、泥�、粉塵、細(xì)�、食�、添加劑、農(nóng)藥、石�、感光材�、燃料、墨�、金屬與非金屬粉�、碳酸鈣、高嶺土、水煤漿、鋁銀漿及其他粉狀物料的粒度分布和形貌特征
HL-T180 顯微顆粒圖像分析儀技�(shù)參數(shù)及詳�(xì)配置
技�(shù)參數(shù)�
硬件參數(shù)
� � � �(tǒng)物鏡4X�10X�40X�60X�100X(油)長(zhǎng)距消色差(平�(chǎng))物鏡組
目鏡1X�10X�16X 大視野攝像目�
載物�(tái)手動(dòng)三維�(jī)械式載物�(tái),尺寸:185mm×140mm,移�(dòng)范圍�50mm×75mm,粗微同軸調(diào)�,微�(dòng)格�:2μm,帶鎖緊和限位裝置
光源底部透射光源�6V 20W鹵素?zé)?亮度可調(diào)。可選頂部金相落射式光源(帶起偏振器�
總放大倍數(shù)4倍—�1600�
� � � �(tǒng)分辨�2048×1536
像素尺寸3.2μm×3.2μm
成像元件1/1.8英寸 progress scan CMOS
幀�6fps@2048×1536 / 10fps@1600×1200 / 15fps@1280×1024 / 30fps@640×480
高清晰度900�
信噪比小�42dB
敏感�1.0V@550nm/lux/S
輸出方式USB2.0
�(shí)際觀�(cè)范圍0.5微米—�3000微米
軟件參數(shù)
� � � 能靜�(tài)采集將樣品形貌拍攝為高清晰BMP圖片
圖片處理使用多種畫圖工具�(duì)圖片�(jìn)行比較簡(jiǎn)單的處理
圖像拼接將多幅圖片�(jìn)行拼�,在顆粒測(cè)試中能夠獲得更多的顆粒數(shù)量以提高�(cè)試的代表�
顆粒的自�(dòng)處理工具集自�(dòng)消除顆粒粘�、自�(dòng)消除雜點(diǎn)、自�(dòng)消除邊界不完整顆�、自�(dòng)填補(bǔ)顆粒的空心區(qū)�、自�(dòng)平滑顆粒邊緣�12�(xiàng)自動(dòng)處理工具�
比例尺標(biāo)定通過�(biāo)�(zhǔn)�(cè)微尺�(biāo)定后,每次測(cè)試只須選擇與物鏡相對(duì)�(yīng)的比例尺�(shù)值即可直接得到顆粒的�(shí)際大小數(shù)��
單�(gè)顆粒�(shù)�(jù)可在圖片上直接對(duì)單�(gè)顆粒�(jìn)行截面積、體�、長(zhǎng)徑比�10多項(xiàng)參數(shù)的分�
任務(wù)管理�(jī)制嚴(yán)格的任務(wù)管理�(jī)�,使用戶能夠?qū)⑺袦y(cè)試數(shù)�(jù)井井有條的管理起來�
�(bào)告輸出將�(cè)試結(jié)果輸出為�(bào)�,并可以自定義報(bào)告樣式�
整體分布特征參數(shù)D10、D50(中位徑�、D90、D100等顆粒分布的特征參數(shù)
�(bào) � � �(shù)整體頻率分布累計(jì)分布顆粒按數(shù)�、體積、面積等分布的頻率分布與累計(jì)分布的數(shù)�(jù)�、曲線圖、柱狀圖等�
�(tǒng)�(jì)平均徑Xnl、Xns、Xnv、Xls、Xlv、Xsv等常用的�(tǒng)�(jì)平均�
形狀參數(shù)�(zhǎng)徑比、龐大率、球型度、表面率、比表面�、外接矩形參�(shù)等表征顆粒形狀�10多項(xiàng)常用�(shù)�(jù)
�(gè)�(shù)�(tǒng)�(jì)直接得到所觀�(cè)的顆粒數(shù)�
樣品縮略圖可以將樣品縮略圖顯示到�(bào)告中
表頭輸入可以將樣品名�、測(cè)試單�、分散介�(zhì)等多�(xiàng)信息輸入到報(bào)告表頭中
自定義LOGO用戶可以自定義LOGO和報(bào)告名�,使輸出的報(bào)告顯示自己公司的信息
�(chǎn)品優(yōu)�(shì)
HL-T180顆粒圖像儀”作為專�(yè)的顆粒圖像分析儀�,是專為�?;蝾w粒相�(guān)行業(yè)�(shè)�(jì)開發(fā)�,它的突出優(yōu)�(shì)主要體現(xiàn)在以下方面:
1 專業(yè)性強(qiáng):本�(chǎn)品不但可�(duì)樣品的顆粒單體的�(jìn)行科�(xué)描述,還可以將顆粒的分布情況使用�(shù)�(jù)、圖表等方式�(jìn)行直觀表現(xiàn)。能夠獨(dú)立或輔助顆粒圖像儀等設(shè)備更好的�(jìn)行顆粒測(cè)試工作�
2�(shù)�(jù)直觀、易懂,分析�(jié)果一目了然:常見的顆粒測(cè)試儀器有顆粒圖像儀、沉降粒度儀等,但在�(jìn)行顆粒檢�(cè)的同�(shí)還可觀�(cè)樣品形貌的直觀性優(yōu)�(shì)是其他所有顆粒測(cè)試設(shè)備所不具備的,這能夠使用戶更全面的了解顆粒的形貌、狀�(tài)、變化過程等信息。并�,對(duì)照直觀的樣品圖�,可以幫助用戶更好的理解�(bào)告中的數(shù)�(jù)含義�
3�(yīng)用廣�,性價(jià)比極高:“HL-T180顆粒圖像儀”既可以作為一種觀�(cè)儀�,替代傳�(tǒng)顯微鏡�(jìn)行各種樣品的觀�(cè)工作,又可以�(jì)算樣品的各項(xiàng)�(shù)�(jù),操作直觀�(jiǎn)便,�(yīng)用范圍廣��